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智能機(jī)器人線路板的表面絕緣電阻測(cè)量

文章來(lái)源：責(zé)任編輯作者：王燦查看手機(jī)網(wǎng)址

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人氣：8060發(fā)布日期：2016-04-13 03:29【大中小】

SIR (Surface Insulation Resistance) 通常用來(lái)作電路板的信賴性試驗(yàn)，其方法為在智能機(jī)器人線路板上將成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形電路，并印上錫膏，然后在一定高溫高濕的環(huán)境下持續(xù)地給予一定偏壓，經(jīng)過(guò)一定長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)(24H,48H,96H,168H) 觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。

這個(gè)試驗(yàn)也有助看出助焊劑或其他化學(xué)物品在智能機(jī)器人PCB板面上是否有殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)。一般我們使用這個(gè)方法來(lái)量測(cè)靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動(dòng)態(tài)的離子遷移現(xiàn)象，另外，它也可以拿來(lái)做CAF(Conductive Anodic Filament，導(dǎo)電性細(xì)絲物，陽(yáng)極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗(yàn)。

注：CAF主要在測(cè)試助焊劑對(duì)PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。

表面絕緣電阻(SIR)被廣泛用來(lái)評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測(cè)局部的污染外，也可以測(cè)得離子及非離子污染物對(duì)智能機(jī)器人線路板可靠度的影響，其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)... 等)來(lái)的有效及方便。

由于現(xiàn)在的電路板布線越來(lái)越密，焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來(lái)越近，所以這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)也可作為錫膏助焊劑的可用性評(píng)估參考。

Comb Pattern,梳形電路是一種多指狀互相交錯(cuò)的密集線路圖形，可用在板面清潔度、綠漆絕緣性等進(jìn)行高電壓測(cè)試的一種特殊線路圖形。

SIR 量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：IPC-TM-650

▼SIR實(shí)驗(yàn)用的測(cè)試板，一片板子有四組成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案

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